在測(cè)量電容性負(fù)載（帶有電容元件的負(fù)載）的絕緣電阻時(shí)，由于施加測(cè)試電壓后會(huì)立即產(chǎn)生充電電流，因此電阻值的估值可能會(huì)較低，從而導(dǎo)致誤判為不合格。

對(duì)于我司的測(cè)試儀，請(qǐng)嘗試進(jìn)行以下設(shè)置。

自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀 3153

可以在設(shè)定的測(cè)試時(shí)間內(nèi)，設(shè)置一個(gè)延遲時(shí)間，避免在測(cè)試開(kāi)始后立即進(jìn)行判定。

AC自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀 3174

與 3153類似，可以設(shè)置延遲時(shí)間。

絕緣電阻測(cè)試儀 ST5520

輸出電壓的上升時(shí)間會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，請(qǐng)確保設(shè)置足夠長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。

絕緣耐壓測(cè)試儀ST5520/AC自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀 3174

*請(qǐng)同時(shí)參考此內(nèi)容。
電氣安全標(biāo)準(zhǔn)和耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試和保護(hù)連續(xù)性測(cè)試